final wafer test

基本解釋

• [材料科學(xué)]晶圓后端測(cè)試

英漢例句

雙語(yǔ)例句

• Internal and outsource wafer sort/ final test support, abnormal yield analysis.
  中測(cè)、測(cè)生產(chǎn)線支持，成品率異常分析。
• In the last two years, Electroglas has made major new technology introductions for 200mm and 300mm wafer probing and final test handling.
  在過(guò)去的兩年中，伊智主要為200mm和300mm晶圓探針臺(tái)和封裝測(cè)試處理引入了新的技術(shù)。
  www.compotech.com.cn

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詞組短語(yǔ)

短語(yǔ)

• Wafer Level Final Test 晶圓級(jí)測(cè)試

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專業(yè)釋義

材料科學(xué)

• 晶圓后端測(cè)試