final wafer test
常見例句
- Internal and outsource wafer sort/ final test support, abnormal yield analysis.
中測(cè)、測(cè)生產(chǎn)線支持，成品率異常分析。 - In the last two years, Electroglas has made major new technology introductions for 200mm and 300mm wafer probing and final test handling.
在過去的兩年中，伊智主要為200mm和300mm晶圓探針臺(tái)和封裝測(cè)試處理引入了新的技術(shù)。
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